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材料科学—泰克材料电学特性参数测试方案

释放新材料的潜力

泰克及旗下吉时利品牌，提供各类材料电参数测试方案，包括：

材料测试平台主要提供材料电学特性的测试方案。电学特性是许多材料研究的重点，常见的测试参数：

  • 包括电阻率，方阻，载流子浓度，载流子迁移率等
  • 常用的测试方法是四探针法，范德瓦尔堡法，霍尔效应。

忆阻器测试系统方案 - 电学世界里的神秘器件

电阻器、电容器、电感器是常见的三种电学器件，大家对他们再熟悉不过，但今天要和大家分享的，是一个鲜为人知的电学器件——忆阻器。

视频为您详细介绍：

  • 忆阻器的历史
  • 忆阻器的应用
  • 忆阻器的测试
  • 泰克忆阻器测试系统方案

半导体材料与器件科学云讲堂

帮助您理解新一代半导体材料的特性和实际应用，以及其测试痛点

实际半导体材料的特性及实际应用：

测试技巧：

 

 

特色内容

用于材料表征应用中的霍尔效应测量

了解为什么霍尔效应测量被广泛用于材料表征应用中。

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当代材料科学研究中电学特性测试方案及应用指南

本手册将介绍当代材料科学面临的挑战以及应对这些挑战泰克公司提供的测试方案

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执行循环伏安测量

本应用指南概述如何通过内置的测试脚本和电化学转换电缆附件包使用恒电位仪进行循环伏安测量。

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非易失性内存技术脉冲I-V表征

介绍NVM 项目、测试以及浮栅浮栅闪存、相变单元、铁电单元器件和阻变存储器的测试参数

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使用4200A-SCS 参数分析仪表征光伏材料和太阳能电池的特点

I‑V、C‑V、C-f、DLCP、脉冲式I-V、电阻率和霍尔电压测量

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一种使用单个超快脉冲测量通道有效迁移率的技术

用以准确评估迁移率的一种新型超快速单脉冲技术(UFSP)，包括技术原理、怎样连接器件、怎样使用4200A-SCS参数分析仪中的Clarius软件

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推荐设备

2600 PCT高功率器件参数曲线追踪仪

支持高压、高流等条件下直流特性IV曲线、电容电压特性CV曲线测试。

 

4200A-SCS 参数分析仪

4200ASCS20LF20FamilyCurves207in1
用于测试分离器件、材料的直流特性（IV/IT/VT/RT曲线），电容电压特性CV曲线和脉冲特性测试（PMU）,支持超高速脉冲测试。

 

AWG70000B任意波形发生器

产生ps级脉冲，进行材料的高速性能测试。

 

DPO/MSO70000示波器

最高可达70GHz带宽，完整还原高速信号，广泛应用于数据通信领域测试。

 

源测量单元

 

为用户灵活、精准的同时提供和测量电流/电压。

 

MSO6系列示波器

6 Series MSO Mixed Signal Oscilloscope Front View
低噪声、高精度、超大屏幕，用于新一代USB, DDR和PCIe测试。